Pracownik

dr inż. Wiesław Kuczko, asystent
Jednostka:
Instytut Technologii Materiałów
Zakład Inżynierii Produkcji
Adres:
budynek BM (z zegarem)
ul. Piotrowo 3, pokój 104
60 - 965 Poznań
Telefon:
61 665 2708

Zainteresowania zawodowe


Konsultacje


Studia stacjonarne
Tygodnie Dzień Miejsce
nieparzyste i parzyste poniedziałek, godzina
11:30 - 13:00
105/120, budynek BM (z zegarem)
Pozostałe terminy

Profil prowadzonych pracy dyplomowych



Prace dyplomowe

Limity
Rok Tryb Stopień Kierunek Specjalność Miejsca zajęte
2021 Stacjonarne I Mechatronika (MCH) Konstrukcje mechatroniczne (KM) 0 z 1
2021 Stacjonarne I Zarządzanie i inżynieria produkcji (ZIP) Informatyzacja produkcji (IPR) 1 z 1
2021 Stacjonarne I Zarządzanie i inżynieria produkcji (ZIP) Systemy produkcyjne 1 (SP1) 0 z 1
2020 Stacjonarne II Zarządzanie i inżynieria produkcji (ZIP) Systemy produkcyjne (SP) 1 z 2
2020 Niestacjonarne I Mechatronika (MCH) Konstrukcje Mechatroniczne (KM) 0 z 1
2020 Niestacjonarne I Zarządzanie i inżynieria produkcji (ZIP) Systemy produkcyjne (SP) 0 z 1
Propozycje
Rok Opcje
2019 Stopień I, Mechanika i Budowa Maszyn (MIBM), Informatyzacja i robotyzacja wytwarzania (IRW)
Opracowanie konstrukcji urządzenia do skanowania przestrzennego
2019 Stopień I, Zarządzanie i Inżynieria Produkcji (ZIP), Informatyzacja produkcji (IPR)
Usprawnienie urządzenia do wytwarzania przyrostowego metodą FDM
Wydane
Rok Opcje
2021 Stopień I, s. Stacjonarne, Zarządzanie i inżynieria produkcji (ZIP), Informatyzacja produkcji (IPR)
Modernizacja urządzenia do wytwarzania przyrostowego
2020 Stopień II, s. Stacjonarne, Zarządzanie i inżynieria produkcji (ZIP), Systemy produkcyjne (SP)
Automatyzacja procesu projektowania osłon protez kończyn dolnych
2019 Stopień I, s. Stacjonarne, Mechanika i Budowa Maszyn (MIBM), Informatyzacja i robotyzacja wytwarzania (IRW)
Opracowanie konstrukcji urządzenia do skanowania przestrzennego
2019 Stopień I, s. Stacjonarne, Zarządzanie i Inżynieria Produkcji (ZIP), Informatyzacja produkcji (IPR)
Usprawnienie urządzenia do wytwarzania przyrostowego metodą FDM