Pracownik
ul. Jana Pawła II 24, pokój 128
60 - 965 Poznań
Zainteresowania zawodowe
Tematyka badań:
zastosowanie termowizji aktywnej do wykrywania wad i defektów podpowierzchniowych (pęknięcia, rozwarstwienia, delaminacje, pory); wpływ ukształtowania topografii warstwy wierzchniej na współczynnik emisyjności; wykorzystanie nano i mikrometrologii topografii powierzchni do oceny nowych metod kształtowania warstwy wierzchniej – szczególnie w implantologii dentystycznej; implementacja metod numerycznych do przetwarzania i analizy danych pomiarowych w metrologii długości i kata.
Konsultacje
Tygodnie | Dzień | Miejsce |
---|---|---|
nieparzyste i parzyste |
czwartek, godzina
13:30 - 15:00
|
128, budynek CMBiN |
Profil prowadzonych pracy dyplomowych
Prace z obszaru metrologii i systemów pomiarowych:
1) diagnosta termalna i termowizja aktywna,
2) pomiary i analiza topografii powierzchni,
3) nanometrologia.
Prace dyplomowe
Rok | Tryb | Stopień | Kierunek | Specjalność | Miejsca zajęte |
---|---|---|---|---|---|
2020 | Stacjonarne | I | Mechanika i Budowa Maszyn (MiBM) | Informatyzacja i robotyzacja wytwarzania (IRW) | 2 z 2 |
2020 | Stacjonarne | I | Mechatronika (MCH) | Konstrukcje mechatroniczne (KM) | 2 z 2 |
2020 | Stacjonarne | II | Mechatronika (MCH) | Automatyzacja i nadzorowanie systemów produkcyjnych (AN) | 1 z 2 |
2020 | Niestacjonarne | I | Mechatronika (MCH) | Konstrukcje Mechatroniczne (KM) | 1 z 1 |
2020 | Niestacjonarne | I | Zarządzanie i inżynieria produkcji (ZIP) | Zarządzanie jakością (ZJ) | 0 z 1 |
2020 | Niestacjonarne | II | Mechatronika (MCH) | Automatyzacja i nadzorowanie systemów produkcyjnych (AN) | 0 z 2 |
Rok | Opcje | |
---|---|---|
2020 |
Stopień II, Mechatronika (MCH), Automatyzacja i nadzorowanie systemów produkcyjnych (AN) |
Rok | Opcje | |
---|---|---|
2020 |
Stopień I, s. Stacjonarne, Mechanika i Budowa Maszyn (MiBM), Informatyzacja i robotyzacja wytwarzania (IRW) w trakcie ustalania |
|
2020 |
Stopień I, s. Stacjonarne, Mechanika i Budowa Maszyn (MiBM), Informatyzacja i robotyzacja wytwarzania (IRW) w trakcie ustalania |
|
2020 |
Stopień I, s. Niestacjonarne, Mechatronika (MCH), Konstrukcje Mechatroniczne (KM) w trakcie ustalania |
|
2020 |
Stopień I, s. Stacjonarne, Mechatronika (MCH), Konstrukcje mechatroniczne (KM) w trakcie ustalania |
|
2020 |
Stopień I, s. Stacjonarne, Mechatronika (MCH), Konstrukcje mechatroniczne (KM) w trakcie ustalania |
|
2020 |
Stopień II, s. Stacjonarne, Mechatronika (MCH), Automatyzacja i nadzorowanie systemów produkcyjnych (AN) Koncepcja układu oceny jakości znakowania wyrobów z wykorzystaniem termowizji |
|
2020 |
Stopień II, s. Stacjonarne, Mechatronika (MCH), Automatyzacja i nadzorowanie systemów produkcyjnych (AN) Układ automatycznego sterowania paletyzatora blach płaskich |
|
2020 |
Stopień II, s. Stacjonarne, Mechatronika (MCH), Automatyzacja i nadzorowanie systemów produkcyjnych (AN) w trakcie ustalania |
|
2019 |
Stopień I, s. Stacjonarne, Mechanika i Budowa Maszyn (MIBM), Informatyzacja i robotyzacja wytwarzania (IRW) System automatycznego nadzorowania stanu dozownika robota przemysłowego |
|
2019 |
Stopień I, s. Stacjonarne, Mechanika i Budowa Maszyn (MIBM), Informatyzacja i robotyzacja wytwarzania (IRW) w przygotowaniu |
|
2019 |
Stopień I, s. Stacjonarne, Mechatronika (MCH), Konstrukcje Mechatroniczne (KM) w trakcie ustalania |
|
2019 |
Stopień I, s. Stacjonarne, Mechatronika (MCH), Konstrukcje Mechatroniczne (KM) w trakcie ustalania |
|
2019 |
Stopień II, s. Niestacjonarne, Mechatronika (MCH), Automatyzacja i nadzorowanie systemów produkcyjnych (AN) Projekt automatyzacji przydomowej mini szklarni |
|
2019 |
Stopień II, s. Niestacjonarne, Mechatronika (MCH), Automatyzacja i nadzorowanie systemów produkcyjnych (AN) w trakcie ustalania |
|
2018 |
Stopień I, s. Stacjonarne, Mechanika i Budowa Maszyn (MIBM), Informatyzacja i robotyzacja wytwarzania (IRW) Koncepcja algorytmu do automatycznej oceny jakości nagrzewania preform Algorithm for automatic quality evaluation of preform heating |
|
2018 |
Stopień I, s. Stacjonarne, Mechanika i Budowa Maszyn (MIBM), Informatyzacja i robotyzacja wytwarzania (IRW) Opracowanie stanowiska do nadzoru SPC Development of the test stand to SPC monitoring |
|
2018 |
Stopień I, s. Stacjonarne, Mechatronika (MCH), Konstrukcje Mechatroniczne (KM) Konstrukcja stanowiska do pomiarów odchyłki okrągłości Construction of position for the measurement of roundness deviations |
|
2018 |
Stopień I, s. Stacjonarne, Mechatronika (MCH), Konstrukcje Mechatroniczne (KM) Projekt sytemu pomiaru grubości płyt drewnianych Design of a system for measuring the thickness of wooden boards |
|
2018 |
Stopień I, s. Niestacjonarne, Mechatronika (MCH), Konstrukcje Mechatroniczne (KM) w trakcie ustalania |
|
2018 |
Stopień I, s. Niestacjonarne, Mechatronika (MCH), Konstrukcje Mechatroniczne (KM) w trakcie ustalania |
|
2018 |
Stopień I, s. Niestacjonarne, Mechatronika (MCH), Konstrukcje Mechatroniczne (KM) w trakcie ustalania |
|
2018 |
Stopień II, s. Stacjonarne, Zarządzanie i Inżynieria Produkcji (ZIP), Informatyzacja produkcji (IPR) Przeprowadzenie statystycznej kontroli jakości dla wielkogabarytowych elementów giętych |
|
2017 |
Stopień I, s. Niestacjonarne, Mechatronika (MCH), Konstrukcje Mechatroniczne (KM) Projekt uniwersalnej sztaplarki do pojemników Design of the universal reach trucks to containers |
|
2017 |
Stopień II, s. Stacjonarne, Mechanika i Budowa Maszyn (MIBM), Diagnostyka mszyn i systemy pomiarowe (DMiSP) Metodyka pomiaru topografii powierzchni napawanych laserowo |
|
2017 |
Stopień II, s. Niestacjonarne, Mechatronika (MCH), Konstrukcje Mechatroniczne (KM) Projekt stanowiska pomiarowego do oceny jakości filtrów za pomocą aktywnej termografii The project of measurement position to assess the quality of the filters using active thermography |
|
2017 |
Stopień II, s. Niestacjonarne, Mechatronika (MCH), Konstrukcje Mechatroniczne (KM) Analiza procesu wytwarzania form wtryskowych na podstawie kontroli wymiarowo-kształtowej gotowych wyrobów Analysis of the process of manufacturing injection molds on the basis of dimension-shape control of finished products |
|
2017 |
Stopień II, s. Niestacjonarne, Mechatronika (MCH), Konstrukcje Mechatroniczne (KM) Projekt stanowiska pomiarowego do oceny jakości znakowania wyrobów The project of position measurement to assess the quality of product labeling |