Kierownik: dr hab. inż. Bartosz Gapiński, prof. PP Tel. 61 665 35 67
Współrzędnościowa Maszyna Pomiarowa DEA Global Image 7.7.5. z PH10MQ SP25M
MPEE = ± 1,5 +L/333 μm; zakres pomiarowy 700 x 700 x 500 mm, pomiary impulsowe i skaningowe
Tomograf komputerowy GE Phoenix v|tome|x s 240
Skaner Atos GOM mv 65 - 550
Skaner Atos Core 300, 185, 65
Ręczny skaner 3D Peel Creaform
System fotogrametryczny Tritop do pomiaru odkształceń statycznych
Mikroskop warsztatowy Mitutoyo z procesorem QM Data oraz kamerą Delta Pix
Wysokościomierz LH - 600 E Mitutoyo
Ramię pomiarowe Tesa
Roundscan 535 Hommel - Etamic Pomiary odchyłek kształtu i położenia oraz chropowatości (m.in. twist)
Urządzenie do pomiaru błędów kształtu z obrotowym wrzecionem
